PARTNER PORTALU partner portalu wnp.pl
Menu

wnp.pl - portal gospodarczy

Szukaj

Ocena parametrów 3D wyznaczonych metodą próbkowania spiralnego

Autor: Radomir Majchrowski
27-09-2012 00:00

W Zakładzie Metrologii i Systemów Pomiarowych Politechniki Poznańskiej opracowano nową metodę pomiaru trójwymiarowej geometrii powierzchni bazującą na próbkowaniu spiralnym. Jest to nowe podejście do zagadnienia zbierania punktów z powierzchni za pomocą niekartezjańskiej siatki próbkowania.

Streszczenie
Pomiar wykonuje się na siatce utworzonej ze zbioru punktów tworzących spiralę Archimedesa. Główną zaletą tej metody jest mniejsza czasochłonność pomiaru w porównaniu z innymi siatkami próbkowania. Stosując siatkę prostokątną, po każdym przejściu końcówki pomiarowej należy wycofać ją w położenie początkowe. Należy także poprzecznie przesunąć stolik pomiarowy o wartość odpowiadającą odległości między kolejnymi przejściami. Jeśli przy próbkowaniu spiralnym może być mowa o odcinkach wejściowym i wyjściowym, to tylko przy rozpoczęciu i przy zakończeniu pomiaru, ponieważ końcówka przez cały czas pomiaru jest w ruchu. Jest to oczywisty zysk czasu, który może wynosić od 30 % do 70 % w porównaniu z czasem przy użyciu siatki prostokątnej. Próbkowanie spiralne rozwiązuje problem czasochłonności pomiarów przestrzennych powierzchni. Jednakże, jak pokazały badania, istnieją różnice w wartościach parametrów 3D, uzyskanych metodą próbkowania spiralnego i metodą siatki prostokątnej. Nie była również znana zależność opisująca wpływ parametrów siatki spiralnej (skok spirali) na wartości parametrów przestrzennych. W artykule przedstawiono analizę wpływu próbkowania spiralnego na parametry topografii powierzchni.

Podczas badań korzystano z programów MATLAB, AWK, Statistica. Do pomiarów powierzchni wykorzystano profilometry Perthen, TOPO, Wyko. Za pomocą wymienionych narzędzi opracowano program do analizy i symulacji metody próbkowania spiralnego. Przeprowadzono badania symulacyjne strategii próbkowania spiralnego dla wytypowanych powierzchni.

1. Charakterystyka metod pomiaru topografii powierzchni

Pomiary topografii powierzchni odgrywają coraz większą rolę w analizowaniu otaczającej nas rzeczywistości. W metrologii warstwy wierzchniej, oprócz pomiarów stykowych, coraz częściej sięga się do innych metod obrazowania powierzchni.

Myshkin [5], zaproponował następujący podział ze względu na rozdzielczość przyrządów (rys. 1). Schemat przedstawiony na rys. 1 pokazuje na osi x krok próbkowania przyrządu pomiarowego oraz na osi y wysokość topografii powierzchni mierzoną przez przyrząd. Przyrządy zostały podzielone na pięć grup: profilometry stykowe, profilometry optyczne, metody SEM, AFM, STM.

KOMENTARZE (0)

Artykuł nie posiada jeszcze komentarzy! Twój może być pierwszy. Wypowiedz się!



SUBSKRYBUJ WNP.PL

NEWSLETTER

Najważniejsze informacje portalu wnp.pl prosto do Twojej skrzynki pocztowej

Wnp.pl: polub nas na Facebooku


Wnp.pl: dołącz do nas na Google+


43 061 ofert w bazie

POLECANE OFERTY

966 189 ofert w bazie

POLECANE OFERTY

5 764 ofert w bazie

2 782 271 ofert w bazie


397 662 ofert w bazie

GORĄCE KOMUNIKATY

Wyszukiwanie zaawansowane
  • parking
  • bankiet
  • catering
  • spa
  • klub
  • usługi
  • rekreacja
  • restauracja
467 ofert w bazie

POLECAMY W SERWISACH GRUPY PTWP